Lehrerfortbildung Röntgenphysik

Dozent: Dr. Carsten Nowak

Schwerpunkt dieser Lehrerfortbildung ist die praktische Nutzung von Schulröntgengeräten zur Kristallstrukturanalyse an Alltagsmaterialien. Neben der klassischen, durch Bragg-Reflexion beschriebenen Röntgenbeugung in Bragg-Brentano-Geometrie nutzen wir dabei auch das Debye-Scherrer-Verfahren und das Laue-Verfahren. Diese Verfahren sind zentral beim Einsatz von Röntgengeräten zur Strukturanalyse in industrieller und akademischer Forschung – ein Anwendungsgebiet von Röntgenstrahlung das weit weniger bekannt ist als medizinische Anwendungen.

Für die Röntgenstrukturanalyse wesentliche physikalische Konzepte aus den Bereichen Atomphysik, Festkörperphysik und Wellenphysik werden in der Lehrerfortbildung problembezogen eingeführt. In der praktischen Arbeit an Schulröntgengeräten mit unterschiedlichen Anodenmaterialien sammeln Sie dann Erfahrung in der Nutzung von Röntgengeräten zur Strukturanalyse, dabei können Sie unterschiedliche Detektoren (Geiger-Müller-Zählrohr, Halbleiterdetektor, Röntgenflächendetektor) verwenden. Für die experimentelle Arbeit stellen wir eine Reihe von Alltagsmaterialien zu Verfügung, zudem können Sie gern mitgebrachte Gegenstände mit einfacher Kristallstruktur untersuchen. Neben Ihren Daten können Sie aus dem Kurs auch einige Proben zur weiteren Nutzung im schulischen Alltag mitnehmen.

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